دوره 3، شماره 4 - ( فروردين 1384 )                   جلد 3 شماره 4 صفحات 15-9 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

الهی پرویز ، نادگران حمید . اندازه گیری و مقایسه ضخامت سمان زینک فسفات آریادنت و زینک فسفات هاروارد با لیزر هلیوم-نئون به روش تداخلی اپتیکی. فصلنامه علمی پژوهشی لیزر در پزشکی. 1384; 3 (4) :9-15

URL: http://icml.ir/article-1-14-fa.html


چکیده:   (16652 مشاهده)
هدف: ضخامت سمان زینک فسفات آریادنت و هاروارد به روش تداخل اپتیکی و با استفاده از یک لیزر هلیوم- نئون اندازه گیری شده است. از این سمانها و محصولات مشابه برای چسباندن روکش های دایمی در دندانپزشکی استفاده می شود. در این تحقیق ضخامت سمان آریادنت و سمان هاروارد مقایسه شده است.مواد و روش ها: ده نمونه آزمایشگاهی از سمان زینک فسفات آریادنت و هاروارد که بین دو تیغه شیشه ای به ضخامت دو میلی متر قرار داده شده و با نیروی یکنواخت 150 نیوتن سفت شده بود، تحت تابش پرتوی لیزر هلیوم- نئون قرار گرفت. محاسبات انجام شده بر اساس عبور پرتوی لیزر از ورای تیغه های شیشه ای و هوای بین آنها و نقش تداخلی حاوی نوارهای هم مرکز روشن و تاریک روی پرده انجام شد.نتایج نتایج نشان می دهد که ضخامت سمان آریادنت وقتی تحت نیروی 150 نیوتن قرار می گیرد 5/35 میکرون بوده که از ضخامت سمان هاروارد به میزان5/8 میکرون بیشتر است.نتیجه گیری: این مطالعه نشان داد که سمان هاروارد از نظر ضخامت لایه ای بهتر از سمان آریادنت بوده به طوری که می تواند در تطابق ریختگی با دندان و نشستن کامل رستوریشن و نیز حفظ و استحکام اتصال بین دندان بسیار بهتر عمل کند.
     
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: عمومى
دریافت: 1385/6/15 | انتشار: 1383/12/25

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به فصلنامه علمی - پژوهشی لیزر پزشکی می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2024 CC BY-NC 4.0 | Journal of Lasers in Medicine

Designed & Developed by : Yektaweb